Modulbeschreibung

Mikrotechnik III

Kurzzeichen:
M_MiT_III
Unterrichtssprache:
Deutsch
ECTS-Credits:
10
Arbeitsaufwand (h):
300
Leitidee:

Die Studierenden

  • kennen die physikalischen Zusammenhänge von Prozessabläufen.
  • kennen Technologien, Prozesse und Herstellverfahren sowie deren Anwendungsgebiete in Entwicklung und Produktion
  • kennen die gründsätzlichen physikalischen Prizipien von Mikrosensoren
  • Kennen den Aufbau grundlegender optischer Messysteme und von Mikroskopen
Modulverantwortung:
Prof. Dr. Buser Rudolf
Lehrpersonen:
Prof. Dr. Ziolek Carsten
Standort (angeboten):
Buchs
Vorausgesetzte Module:
Modultyp:
Wahlpflicht-Modul für Systemtechnik BB STD_05(Empfohlenes Semester: 7)Kategorie:Profilmodule (PM)
Fach-Pflichtmodul für Mikrotechnik STD_05 (PF)
Wahlpflicht-Modul für Systemtechnik VZ STD_05(Empfohlenes Semester: 5)Kategorie:Profilmodule (PM)
Fach-Pflichtmodul für Mikrotechnik STD_05 (PF)
Modulbewertung:
Note von 1 - 6

Leistungsnachweise und deren Gewichtung

Modulschlussprüfung:
Prüfung nach spezieller Definition
Bemerkungen zur Prüfung:

Am Ende des Semesters findet eine abgesetzte Modulschlussprüfung in vier Teilen statt. Die Kurse Technische Optik II, Oberflächen und 3D-Strukturierung, Beschichtung und Analytik sowie Funktionselemente der Mikrotechnologie bilden je einen Teil der abgesetzten Modulschlussprüfung.

Während der Unterrichtsphase:

Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Beschichtung und Analytik eine Prüfung geschrieben. Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Reinraumpraktikum ein Praktikum mittels Bericht bewertet.

Bewertungsart:
Note von 1 - 6
Gewichtung:

Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Beschichtung und Analytik eine Prüfung geschrieben (Gewicht 14.285%). Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Reinraumpraktikum ein Praktikum mittels Bericht bewertet (Gewicht 14.285%).

Am Ende des Semesters findet eine abgesetzte Modulschlussprüfung in vier Teilen statt. Die Kurse Technische Optik II (Gewicht 14.286%), Oberflächen und 3D-Strukturierung (Gewicht 14.286%), Beschichtung und Analytik (Gewicht 14.286%) sowie Funktionselemente der Mikrotechnologie (Gewicht 28.572%) bilden je einen Teil der abgesetzten Modulschlussprüfung.

Bemerkungen:

Inhalte

Angestrebte Lernergebnisse (Abschlusskompetenzen):

Die Studierenden

Die Studierenden

  • kennen den Aufbau grundlegender optischer Messysteme.
  • kennen Aufbau und Wirkungsweise telezentrischer Systeme wie Fernrohr und Autokollimator.
  • kennen Funktion, Einsatzweise und Anwendungen von Mikroskopen sowie ihre Grenzen.
  • verstehen die Prinzipien verschiedener Oberflächenmessverfahren und kennen ihre Einsatzbereiche.
  • können geeignete Messverfahren auswählen.
Modul- und Lerninhalt:
Telezentrische Systeme
• Fernrohr
• Autokollimator

Mikroskop
• Aufbau und Wirkungsweise
• Auflösungsvermögen, förderliche Vergrösserung, Schärfentiefe
• Dunkelfeld / Hellfeld / Auflicht / Durchlicht
• Interferenzkontrast

Optische Oberflächenmessverfahren
• Konfokale Mikroskopie
• Weisslicht Interferometrie
• Interferometrie
• Digitale Holografie
• Speckle Interferometrie
• Chromatische Messverfahren
Lehr- und Lernmethoden:
Seminaristischer Unterricht, begleitetes Selbststudium, Laborübungen, Selbststudium, Laborpraktika Vorlesungen, Übungen, Selbststudium, praktische Arbeiten