Modulbeschreibung

Optische Messtechnik

Kurzzeichen:
M_OM
Unterrichtssprache:
Deutsch
ECTS-Credits:
2
Arbeitsaufwand (h):
60
Leitidee:

Die Studierenden

  • kennen die Grundprinzipien der wichtigsten optischen Verfahren zur Messung dimensioneller Grössen.
  • können optische Messgeräte gezielt auswählen und anwenden.
  • kennen die Einsatzmöglichkeiten und –grenzen verschiedener optischer Messgeräte zur Form- und Verformungsmessung.
  • kennen die wichtigsten interferometrischen Verfahren und ihre Einsatzmöglichkeiten in der Bauteilentwicklung und Fertigungsmesstechnik.
  • kennen verschiedene optische Verfahren zur Oberflächenprüfung.
Modulverantwortung:
Prof. Dr. Ettemeyer Andreas
Lehrpersonen:
Prof. Dr. Ettemeyer Andreas
Standort (angeboten):
Buchs
Vorausgesetzte Module:
Modultyp:
Wahlpflicht-Modul für Systemtechnik BB STD_05(Empfohlenes Semester: 6)Kategorie:Wahlmodule (WM)
Wahlpflicht-Modul für Systemtechnik VZ STD_05(Empfohlenes Semester: 6)Kategorie:Wahlmodule (WM)
Bemerkungen:
Das Modul findet im Frühlingssemester statt.
Modulbewertung:
Note von 1 - 6

Leistungsnachweise und deren Gewichtung

Während der Unterrichtsphase:

Während der Unterrichtsphase wird ein Thema erarbeitet und präsentiert sowie eine Prüfung geschrieben.

Bewertungsart:
Note von 1 - 6
Gewichtung:
Während der Unterrichtsphase wird ein Thema erarbeitet und präsentiert (Gewicht 50%) sowie eine Prüfung geschrieben (Gewicht 50%).
Bemerkungen:

Es findet keine abgesetzte Modulschlussprüfung statt.

Inhalte

Angestrebte Lernergebnisse (Abschlusskompetenzen):

Die Studierenden

  • kennen die Grundprinzipien der wichtigsten optischen Verfahren zur Messung dimensioneller Grössen.
  • können optische Messgeräte gezielt auswählen und anwenden.
  • kennen die Einsatzmöglichkeiten und –grenzen verschiedener optischer Messgeräte zur Form- und Verformungsmessung.
  • kennen die wichtigsten interferometrischen Verfahren und ihre Einsatzmöglichkeiten in der Bauteilentwicklung und Fertigungsmesstechnik.
  • kennen verschiedene optische Verfahren zur Oberflächenprüfung.
Modul- und Lerninhalt:

Optische Koordinatenmessverfahren

  • Triangulation, Lichtschnittverfahren
  • Streifenprojektionsverfahren und Phasenshift
  • 3D-Bildkorrelation

 

Interferometrische Verfahren

  • Michelson-Interferometer
  • Twyman-Green-Interferometer
  • Laser Doppler Velocimeter
  • Speckle Interferometer
  • Digitale Holografie

 

Optische Oberflächenprüfung

  • Konfokales Mikroskop
  • Weisslicht-Interferometer
Lehr- und Lernmethoden:

Anhand vorgegeben Literatur eigene Präsentationen erarbeiten und präsentieren

Laborpraktika

Lehrmittel/-materialien:
Literatursammlung, Versuchsanleitung, diverse empfohlene Fachliteratur