Die Studierenden
Am Ende des Semesters findet eine abgesetzte Modulschlussprüfung in fünf Teilen statt. Die KurseTechnische Optik II, Oberflächen und 3D-Strukturierung, Analytik und Messmethoden, Beschichtungstechnologie sowie Funktionselemente der Mikrotechnologie bilden je einen Teil der abgesetzten Modulschlussprüfung.
Während der Unterrichtsphase wird in den vier Kursen Technische Optik II, Oberflächen und 3D-Strukturierung, Analytik und Messmethoden sowie Beschichtungstechnologien eine Prüfung geschrieben. Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Funktionselmenet der Mikrotechnologie eine Prüfung geschrieben. Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Reinraumpraktikum ein Praktikum mittels Bericht bewertet.
Während der Unterrichtsphase wird in den drei Kursen Oberflächen und 3D-Strukturierung, Analytik und Messmethoden sowie Beschichtungstechnologien eine Prüfung geschrieben (Gewicht je 7.143 %). Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Funktionselmenet der Mikrotechnologie eine Prüfung geschrieben (Gewicht 14.285 %). Während der Unterrichtsphase wird im Kurs Reinraumpraktikum ein Praktikum mittels Bericht bewertet (Gewicht 14.285%).
Am Ende des Semesters findet eine abgesetzte Modulschlussprüfung in fünf Teilen statt. Die KurseTechnische Optik II (Gewicht 14.286%), Oberflächen und 3D-Strukturierung (Gewicht 7.143%), Analytik und Messmethoden (Gewicht 7.143%), Beschichtungstechnologie (Gewicht 7.143%) sowie Funktionselemente der Mikrotechnologie (Gewicht 14.286%) bilden je einen Teil der abgesetzten Modulschlussprüfung.
Die Studierenden
kennen Aufbau und Wirkungsweise telezentrischer Systeme wie Fernrohr und Autokollimator
kennen Funktion, Einsatzweise und Anwendungen von Mikroskopen sowie ihre Grenzen
verstehen die Prinzipien verschiedener Oberflächenmessverfahren und kennen ihre Einsatzbereiche
können geeignete Messverfahren auswählen
Durchführung gemäss Stundenplan
Die Studierenden
Skriptum
Plasma und PVD: B. Chapman, Glow Discharge Processes, John Wiley & Sons, 1980
CVD: D. Dobkin und M. Zuraw (Ed.), Principles of Chemical Vapor Deposition, Kluwer, 2003
Analytik: H. Bubert und H. Jenett (Ed.), Surface and Thin Film Analysis, Wiley-VCH, 2003
Analytik: M. Henzler und W. Göpel, Oberflächenphysik des Festkörpers, Teubner, 1991
Durchführung gemäss Stundenplan
Die Studierenden
Skriptum
Empfohlene weiterführende Literatur
Durchführung gemäss Stundenplan
Die Studierenden
Sensorik
Durchführung gemäss Stundenplan
Die Studierenden
Durchführung gemäss Stundenplan
Die Studierenden
Selbststudium zur Vorbereitung
Beiglietete durchführung eines Praktikums
Durchführung gemäss Stundenplan